一般终端测试
中国探针拥有丰富的探针及测试治具开发经验，能够为您挑选出最佳的测试解决方案。目前已开发过上百款客製探针，并且具有30款以上的规格探针。中国探针能够经过事先的电性或者机构模拟，使得我们的产品绝对能够表现出良好的测试结果及良率。
一般封包测试治具 规格
材质 Torlon 4203, Torlon 5530, PEEK, PEEK Ceramic, SCP5000
Data Rate资料率
（依测试规范不同会有不同表现）
6 Gpbs/ 8Gpbs/ 12 Gpbs
IC 封包尺寸
1.5x1.5~38x38 mm²
最小间距 0.2mm
寿命（探针） >200k 次
http://www.chinapccp.com/product_detail.php?type_d=1&PNo=21
一般终端测试